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產(chan) 品名稱:美國GE超聲波探頭 德國KK

產(chan) 品型號:B1F

更新時間:2023-12-15

產(chan) 品特點:美國GE超聲波探頭B1F 對所有類型零件體(ti) 內(nei) 或沿表麵分布的缺陷的探測和評估。可以用於(yu) 有保護膜的探頭不適合的有鋒利邊緣的物體(ti) 的測試

B1F美國GE超聲波探頭 德國KK的詳細資料:

美國GE超聲波探頭B1F簡介

特性:非常好的穿透性 、高的遠場分辨率、 高的抗磨損性

美國GE超聲波探頭B1F主要應用:
通常:對所有類型零件體(ti) 內(nei) 或沿表麵分布的缺陷的探測和評估。可以用於(yu) 有保護膜的探頭不適合的有鋒利邊緣的物體(ti) 的測試。

指尖探頭B..F和MB..F:可以與(yu) 探頭K..G和K..N相比較,但是由於(yu) 扁平設計,它們(men) 非常適合於(yu) 那些不容易接近的位置的測試。經常被稱作"搜索探頭"。

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