A1型標準磁探試片 靈敏度試片
簡 介：
A1型靈敏度試片先由日本無損檢測學會(hui) 提出，以後為(wei) 多個(ge) 國家使用，主要用於(yu) 零部件的磁粉探傷(shang) ，在檢查中，對幾何形狀複雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規範，並可檢查探傷(shang) 設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷(shang) 操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷(shang) 工作所需的電流峰值和方向，並對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷(shang) 工作者的調試工具。
A1型標準磁探試片特點：
試片用於(yu) 磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀複雜的零件時，表現其優(you) 點。
性能規格：
A型標準試片分為(wei) A1、A2；A1為(wei) 退火材料製成，A2為(wei) 不作熱處理的冷軋材料製成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與(yu) 日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為(wei) A1 （15/50μ）標準試片。相當於(yu) A1型試片中2# （30/100μ）標準靈敏度試片，規格為(wei) （8-9）D；適用於(yu) 中靈敏度探傷(shang) ，其中括號中分子為(wei) 槽深，分母為(wei) 試片厚度，單位為(wei) （微米），D為(wei) 工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規格的試片組成
A1型標準磁探試片使用方法：
1、標準試片適宜於(yu) 連續磁化法，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一麵朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與(yu) 被檢麵接觸良好，膠帶紙貼於(yu) 試片兩(liang) 邊緣，不能覆蓋試片背麵的刻槽部位。
2、進行外加懸場法，對工件進行磁化，並在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規範由低檔逐提高，以顯示磁痕為(wei) 界，即是磁化電流）。上述步驟完畢後，貼在工件表麵上的試片，即可清楚顯示磁痕。
A1型標準磁探試片注意事項：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表麵的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與(yu) 被檢麵接觸良好。
2、試片用後請塗防鏽油。
3、試片有鏽蝕、褶折或磁特性發生改變時不得繼續使用。
相關(guan) 產(chan) 品：
A1型磁粉試片 B型 直流標準試塊（12孔試塊） C型 磁粉探傷(shang) 標準靈敏度試片
YM-D型 滲透試塊（不鏽鋼條紋試塊） E型 交流標準試塊（3孔試塊） D型磁粉探傷(shang) 用試片

M1型磁粉檢測試片 鋁合金滲透對比試塊 YM-B5型 滲透試塊（不鏽鋼五點試塊）

18新利真人网歡迎您：

電  話：

手 機： 

業(ye)  務: 1470210137

網 址：www.sh-tongbei。。ｃｎ