JB4060型表麵汙染檢測儀(yi) ，適用於(yu) α，β輻射表麵汙染檢測，同時也適用與(yu) X、γ輻射劑量率的監測。儀(yi) 器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲(chu) 存和商檢等領域進行α，β輻射表麵汙染檢測或X，γ輻射防護監測的儀(yi) 器，該儀(yi) 器采用單片機控製，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。

JB4060型表麵汙染檢測儀(yi) 特點：

 進口蓋革探測器，探測效率高

 可測量α、β、γ、X射線

 可移動金屬屏可在β/γ混合場中用於(yu) 區分β和γ

 便攜式，一體(ti) 化設計，重量輕

 單片機控製，軟件功能強

 LCD液晶顯示，會(hui) 話式操作界麵

 計數率顯示cpm、cps、μSv/h

 電池失效報警

主要技術指標：

 計數範圍：1～105

 顯示單位：cpm、cps、μSv/h

 探測器：鹵素-水淬式蓋革-彌勒計數管（進口）。有效直徑：45mm； 雲(yun) 母薄片密度：1.5-2.0mg/cm2

 靈 敏 度：α表麵活度響應>1.7s-1Bq-1cm2

β表麵活度響應>1.7s-1Bq-1cm2

γ≥500CPM/μSv·h-1（對137Cs）

 劑量率範圍：0.06～2500.00µSv/h

 儀(yi) 器本底：每分鍾計數≤60CPM

 相對誤差：測量範圍內(nei) 相對基本誤差≤15%

 供電電源：2節1.5v普通5號電池，整機電流≤50mA

 溫度範圍：-10℃～45℃

 濕度範圍：相對濕度≤90%（40℃）

     尺寸重量：0.7kg;23×13×4.5（cm）